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全新泰賽TESEC 熱阻測(cè)試機(jī) 4408-KT
全新泰賽TESEC 熱阻測(cè)試機(jī) 4408-KT
4408-KT
4408-KT 設(shè)計(jì)用于測(cè)量 GaN HEMT隨 VGS 的溫度變化 (ΔVGS) 的瞬態(tài)熱阻特性。
測(cè)量值 VGS1 和 ΔVGS 值顯示在前面板顯示屏上。
特點(diǎn)
?測(cè)量結(jié)果顯示在前面板顯示屏上
?可以顯示升高的溫度 ΔT 作為計(jì)算結(jié)果
?熱阻Rth可顯示為計(jì)算結(jié)果
?多重測(cè)試功能
?60 可存儲(chǔ)測(cè)試程序
?接觸檢查/開路,短路檢查
?振蕩檢測(cè)
?可以通過 TESEC DC 測(cè)試儀控制操作
?門限電壓可設(shè)定,并配備器件過熱保護(hù)電路
?GP-IB/RS-232C 接口使外部設(shè)備能夠控制該測(cè)試儀
?可以連接功能檢查單元(4321-AB)(選項(xiàng))
■ 可選軟件示例
?從 PC 控制測(cè)試儀的軟件
(測(cè)試程序創(chuàng)建、數(shù)據(jù)收集和計(jì)數(shù)器收集)
?使用功能檢查單元收集測(cè)量數(shù)據(jù)的軟件
項(xiàng)目 | 規(guī)格 |
漏極電流 (ID) | 00.01~20.00 A |
測(cè)量電流 (IM) | 000.1~999.9 mA |
柵極電壓 (VGS) | 00.1~10.0 V |
柵極限制電壓 (GATE-L) | 01.0~10.0 V |
通電時(shí)間 (PT)T | 100 微秒~30.0 秒 |
延遲時(shí)間 (DT) | 010~999 微秒 |
上限/下限 | 000.0~999.9 mV |
VDS | 01.0~70.0 V |
測(cè)量范圍 | VGS1 0000.0~2000.0 mV ΔVGS 0000.0~999.9 mV(分辨率 0.1 mV) |
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